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PRODUCTS CENTER當前位置:首頁產品中心三維X射線顯微鏡(XRM)D8
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PRODUCT CLASSIFICATION原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段; 科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析;電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。原位X射線衍射儀檢測
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測。
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行多晶X射線衍射儀檢測。
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